Sekundärionen-Massenspektrometrie
- Sekundärionen-Massenspektrometrie
Se|kun|där|io|nen-Mas|sen|spek|t|ro|me|t|rie [
↑ sekundär (1)]; Abk.
SIMS;
Syn.:
Ionenstrahl-Mikroanalyse (
IMA,
IMMA,
IPMA,
ISMA): ein Verfahren der
↑ Massenspektroskopie zur qual. u. quant. Analyse der Oberflächen von Werkstoffen mit Hilfe einer sog. Ionensonde (
Ionenmikrosonde). Ein gebündelter Strahl von Primärionen (
O+2, O
‒, Cs
+, Ar
+, Ga
+) erzeugt beim Auftreffen auf die Probenoberfläche Sekundärionen, die massenspektrometrisch untersucht werden.
Universal-Lexikon.
2012.
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Sekundärionen-Massenspektrometrie — antrinių jonų masių spektrometrija statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. secondary ion mass spectrometry vok. Sekundärionen Massenspektrometrie, f rus. вторично ионная масс спектрометрия, f; масс спектрометрия на вторичных ионах,… … Radioelektronikos terminų žodynas
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